Laser Desorption Ionisation Time-of-Flight Mass Spectrometry of Chalcogenide Glasses from (GeSe2)100-x(Sb2Se3)x System

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři

ŠÚTOROVÁ Katarína PROKEŠ Lubomír NAZABAL Virginie BOUŠKA Marek HAVEL Josef NĚMEC Petr

Rok publikování 2015
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/jace.13857/full
Doi http://dx.doi.org/10.1111/jace.13857
Obor Analytická chemie, separace
Klíčová slova LDI TOFMS; chalcogenide glasses; structure; clusters; germanium; selenium; antimony
Popis Laser Desorption Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometry (LDI TOFMS) was used to characterize chalcogenide glasses from pseudobinary (GeSe2)100-x(Sb2Se3)x system, where x = 5-60, aiming description of their partial structure through the analysis of the plasma formed due to interaction of pulsed laser beam with studied glasses. The plasma contains positively or negatively charged clusters; their stoichiometry was determined as Sec- (c = 2-3), Sb+, Se2+, and Sb3+; binary GeSec+, SbSec+/- (c = 1-2), SbbSec+ (b = 2-3, c = 1-4), GeaSb3+ (a = 1-4), Sb2Sec- (c = 3-4), SbSe3-, and Sb3Se5+; ternary GeSbSe2+, GeSbSec- (c = 3-5), GeSbbSe+ (b = 4-5), and Ge9Sb2Sec+ (c = 5-7) ones. Described method is generally useful not only for partial structural characterization of chalcogenide glasses and corresponding thin films but also for evaluation of their contamination with oxygen and/or hydrogen.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.